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Testing Static Random Access Memories Defects, Fault Models and Test Patterns

著者  
Testing Static Random Access Memories Defects, Fault Models and Test Patterns,1402077521,9781402077524

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Book Information

出版社:Springer
発売日:31-Mar-2004
ISBN:1402077521
ISBN13:9781402077524
形式:Hardback
重量:644 gms
書誌情報:pp. 244, Illus.

書籍タイトル "Testing Static Random Access Memories Defects, Fault Models and Test Patterns 1st Edition" 著者 Said Hamdioui. こちらの書籍が発行された年 2004. 書籍ISBN番号 1402077521|9781402077524 このタイトルは Hardback バージョンに割り当てられます 書籍の総ページ数 pp. 240 (ページ) この書籍の出版社はこちらです Springer. 当サイトにはこちらの出版社から 98423 冊の素晴らしい書籍がございます

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