Built In Test for VLSI Pseudorandom Techniques
著者 Paul H. Bardell
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| 出版社: | John Wiley & Sons |
| 発売日: | 02-Dec-1987 |
| ISBN: | 0471624632 |
| ISBN13: | 9780471624639 |
| 形式: | Hardback |
| 重量: | 778 gms |
| 書誌情報: | pp. 368 |
書籍タイトル "Built In Test for VLSI Pseudorandom Techniques" 著者 Paul H. Bardell. こちらの書籍が発行された年 1987. 書籍ＩＳＢＮ番号 0471624632|9780471624639 このタイトルは Hardback バージョンに割り当てられます 書籍の総ページ数 PP. 368 (ページ) この書籍の出版社はこちらです John Wiley & Sons. 当サイトにはこちらの出版社から 122553 冊の素晴らしい書籍がございます