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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits 2nd Edition

著者  ,
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits 2nd Edition,1439829411,9781439829417

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Book Information

出版社:Taylor & Francis Group
発売日:2013
ISBN:1439829411
ISBN13:9781439829417
形式:Hardback
重量:690 gms
書誌情報:pp. 250

書籍タイトル "Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits 2nd Edition" 著者 Sandeep K. Goel. こちらの書籍が発行された年 2013. 書籍ISBN番号 1439829411|9781439829417 このタイトルは Hardback バージョンに割り当てられます 書籍の総ページ数 pp. 250 (ページ) この書籍の出版社はこちらです Taylor & Francis Group. 当サイトにはこちらの出版社から 159524 冊の素晴らしい書籍がございます

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