洋書を”低価格”で”スピーディ”にご提供。
ようこそJPサイトへ Guest | ログイン | メインページ | お問い合わせ | 図書館/研究機関

Semiconductor Memories Technology, Testing, and Reliability

著者  
Semiconductor Memories Technology, Testing, and Reliability,0780310004,9780780310001

オンデマンド印刷

代引にて 18日以内に発送します

東京から発送

国内無料配送

海外配送

配送時間とあなたの国への 配送料 の確認

Book Information

出版社:IEEE Operations Center
発売日:24-Sep-2002
ISBN:0780310004
ISBN13:9780780310001
形式:Hardback
重量:1186 gms
書誌情報:pp. 480

書籍タイトル "Semiconductor Memories Technology, Testing, and Reliability" 著者 Ashok K. Sharma. こちらの書籍が発行された年 2002. 書籍ISBN番号 0780310004|9780780310001 このタイトルは Hardback バージョンに割り当てられます 書籍の総ページ数 pp. 480 (ページ) この書籍の出版社はこちらです IEEE Operations Center. 当サイトにはこちらの出版社から 4427 冊の素晴らしい書籍がございます

Fundamentals of Semiconductor Manufacturing and Process Control,0471784060,9780471784067

Fundamentals of Semi ...

Gary S. May, Co ...

当ショップ価格: ¥ 25842

Fault Detectability in DWDM Towards Higher Signal Quality and System Reliability 1st Edition,0780360443,9780780360440

Fault Detectability ...

Stamatios V. Ka ...

当ショップ価格: ¥ 14143

Advanced Semiconductor Memories Architectures, Designs, and Applications,0471208132,9780471208136

Advanced Semiconduct ...

Ashok K. Sharma

当ショップ価格: ¥ 41571

Advanced Theory of Semiconductor Devices,0780334795,9780780334793

Advanced Theory of S ...

Karl Hess

当ショップ価格: ¥ 37573

Software Reliability and Testing,0818668520,9780818668524

Software Reliability ...

Hoang Pham

当ショップ価格: ¥ 16932

Nonvolatile Semiconductor Memory Technology A Comprehensive Guide to Understanding and Using NVSM Devices,0780311736,9780780311732

Nonvolatile Semicond ...

William D. Brow ...

当ショップ価格: ¥ 47129