Lifetime Spectroscopy A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications 1st Edition
著者 Stefan Rein
購入できます
東京から発送
国内無料配送
海外配送
配送時間とあなたの国への
配送料
の確認
出版社: | Springer |
発売日: | 23-Jun-2005 |
ISBN: | 3540253033 |
ISBN13: | 9783540253037 |
形式: | Hardback |
重量: | 1012 gms |
書誌情報: | pp. xxvi + 489 |
書籍タイトル "Lifetime Spectroscopy A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications 1st Edition" 著者 Stefan Rein. こちらの書籍が発行された年 2005. 書籍ISBN番号 3540253033|9783540253037 このタイトルは Hardback バージョンに割り当てられます 書籍の総ページ数 pp. xxvi + 489 (ページ) この書籍の出版社はこちらです Springer. 当サイトにはこちらの出版社から 100023 冊の素晴らしい書籍がございます