Testing Static Random Access Memories Defects, Fault Models and Test Patterns
著者 Said Hamdioui
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| 出版社: | Springer |
| 発売日: | 31-Mar-2004 |
| ISBN: | 1402077521 |
| ISBN13: | 9781402077524 |
| 形式: | Hardback |
| 重量: | 644 gms |
| 書誌情報: | pp. 244, Illus. |
書籍タイトル "Testing Static Random Access Memories Defects, Fault Models and Test Patterns 1st Edition" 著者 Said Hamdioui. こちらの書籍が発行された年 2004. 書籍ＩＳＢＮ番号 1402077521|9781402077524 このタイトルは Hardback バージョンに割り当てられます 書籍の総ページ数 pp. 240 (ページ) この書籍の出版社はこちらです Springer. 当サイトにはこちらの出版社から 98423 冊の素晴らしい書籍がございます