Semiconductor Device and Failure Analysis Using Photon Emission Microscopy 1st Edition
著者 Wai Kin Chim
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| 出版社: | John Wiley & Sons |
| 発売日: | 10-Nov-2000 |
| ISBN: | 047149240X |
| ISBN13: | 9780471492405 |
| 形式: | Hardback |
| 重量: | 867 gms |
| 書誌情報: | pp. xv + 269, Illus. |
書籍タイトル "Semiconductor Device and Failure Analysis Using Photon Emission Microscopy 1st Edition" 著者 Wai Kin Chim. こちらの書籍が発行された年 2001. 書籍ＩＳＢＮ番号 047149240X|9780471492405 このタイトルは Hardback バージョンに割り当てられます 書籍の総ページ数 pp. 288 (ページ) この書籍の出版社はこちらです John Wiley & Sons. 当サイトにはこちらの出版社から 138341 冊の素晴らしい書籍がございます