Semiconductor Memories Technology, Testing, and Reliability
著者 Ashok K. Sharma
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| 出版社: | IEEE Operations Center |
| 発売日: | 24-Sep-2002 |
| ISBN: | 0780310004 |
| ISBN13: | 9780780310001 |
| 形式: | Hardback |
| 重量: | 1186 gms |
| 書誌情報: | pp. 480 |
書籍タイトル "Semiconductor Memories Technology, Testing, and Reliability" 著者 Ashok K. Sharma. こちらの書籍が発行された年 2002. 書籍ＩＳＢＮ番号 0780310004|9780780310001 このタイトルは Hardback バージョンに割り当てられます 書籍の総ページ数 pp. 480 (ページ) この書籍の出版社はこちらです IEEE Operations Center. 当サイトにはこちらの出版社から 4427 冊の素晴らしい書籍がございます