Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits 2nd Edition
著者 Sandeep K. Goel, Krishnendu Chakrabarty
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| 出版社: | Taylor & Francis Group |
| 発売日: | 2013 |
| ISBN: | 1439829411 |
| ISBN13: | 9781439829417 |
| 形式: | Hardback |
| 重量: | 690 gms |
| 書誌情報: | pp. 250 |
書籍タイトル "Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits 2nd Edition" 著者 Sandeep K. Goel. こちらの書籍が発行された年 2013. 書籍ＩＳＢＮ番号 1439829411|9781439829417 このタイトルは Hardback バージョンに割り当てられます 書籍の総ページ数 pp. 250 (ページ) この書籍の出版社はこちらです Taylor & Francis Group. 当サイトにはこちらの出版社から 159524 冊の素晴らしい書籍がございます